Phân tích hình thái và tính chất của vật liệu trên kính hiển vi điện tử quét
Nguyên lý: Kính hiển vi điện tử quét (Scanning Electron Microscope – SEM) là thiết bị có thể tạo ra ảnh của bề mặt mẫu vật với độ phân giải cao bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu. Sự tương tác giữa chùm điện tử với bề…
Details












